方阻測試新產(chǎn)品為薄膜測試提供機械、電氣兩方面的保護，在寬廣的量程范圍內(nèi)，使各種電子薄膜能得到準確、無損的方塊電阻測量結(jié)果。

由于新型薄膜材料種類繁多，研制過程中樣品性能變化較大，而且各種薄膜的機械強度，允許承受的電壓、電均不相同，因此測試儀可為用戶量身定制各種定探針壓力及曲率半徑的探針頭，儀器的測試電分7檔，可由0.4μA增加到為1000mA，測試電壓可由8V增加到80V，測試電壓和測試電均可連續(xù)調(diào)節(jié)，給薄膜、涂層的研制者提供了個摸索測試條件的寬闊空間。

由于儀器設有恒源開關，并且所有電檔在探針與樣品接觸后均有電延時接通的能，充分保護了樣品表面不會因為探針接觸時產(chǎn)生的電火花而受到損壞。